die tage 7 und 8
08:56 / 22.07.2009
21.07.
heute bin ich beim imagen mit jürgen. wir schauen uns die oberfläche von bestimmten komponenten auf glas an (ein sample in der nasszelle), dann wollen wir ein quadrat reinkratzen.
zuallererst: beim afm gibt es 2 verschiedene modi: den contact mode und den tapping mode. beim contact mode ist, wie der name schon sagt, die cantileverspitze ständig in kontakt mit der oberfläche. im tapping mode oszilliert der canti auf und ab, ein zweiter piezo oder ein magnet in der nose sorgen dafür, dass der canti zu schwingen beginnt. je höher die amplitude, desto niedriger ist die kraft, die benötigt wird. im tapping mode nimmt man meistens einen kleinen cantilever, der c-cantilever, der am größten ist, ist einfach zu träge für den tapping mode.
wir nehmen den f-canti im tapping mode.
zuerst bestimmen wir die frequenz: ca. 33kHz
dann sehen wir uns die kraft-abstands-kurve an. auf der y-achse ist die amplitude aufgetragen, auf der x-achse ist der abstand aufgetragen. wir erwarten eine kurve, die sich, je mehr man sich dem nullpunkt nähert, also je näher man an der oberfläche ist, nach unten biegt. man muss sich vorstellen: der canti oszilliert. trifft er auf einer oberfläche auf, wird die oszillation abgeschwächt, die amplitude wird kleiner.
und jetzt beginnen wir mit dem imagen, wir erzeugen ein bild der oberfläche (topografiebild). die kamera, die im mikroskop eingebaut ist, ist praktisch zum cantilever ausrichten. als erstes bekommen wir ein komisches bild. durch die kamera sehen wir, dass sich das sample mitbewegt, also brechen wir ab und nehmen das sample raus, vielleicht hat sich das klebeband, mit dem das sample in der nasszelle befestigt ist, gelöst.
wir starten einen neuen versuch.
beim imagen bekommt man immer 2 bilder: ein topografiebild und ein deflectionbild. (deflection ist das signal der reflexion des laserstrahls vom cantilever auf die photodiode. verbiegt sich der cantilever, verändert sich das signal.) das ziel ist, so viel information wie möglich vom deflectionbild ins topografiebild zu bringen.
über die gains kann man regeln, wie sensibel der piezo ist. stellt man die gains zu hoch ein, übersteuert der piezo und man bekommt kein bild.
wieder zurück zu unserem bild. das topografiebild ist verwischt. möglich, dass der canti noch nicht richtig in kontakt mit der oberfläche ist. neu einstellen.
das deflectionbild sieht hügelig aus, wir nehmen an, dass eine verunreinigung des samples oder der spitze vorliegt.
nach weiteren versuchen gibt es noch immer kein bild, also wird die spitze gewechselt.
schade, ich habe kein richtiges bild gesehen.
da schaut die lü vorbei. sie ist auch praktikantin hier, hat sich aber am fuß verletzt und kommt die ganze woche nicht. aber sie besucht uns heute.
22.07.
mein betreuer andi ist krank... gute besserung!
helfe moni beim kurven auswerten.
heute bin ich beim imagen mit jürgen. wir schauen uns die oberfläche von bestimmten komponenten auf glas an (ein sample in der nasszelle), dann wollen wir ein quadrat reinkratzen.
zuallererst: beim afm gibt es 2 verschiedene modi: den contact mode und den tapping mode. beim contact mode ist, wie der name schon sagt, die cantileverspitze ständig in kontakt mit der oberfläche. im tapping mode oszilliert der canti auf und ab, ein zweiter piezo oder ein magnet in der nose sorgen dafür, dass der canti zu schwingen beginnt. je höher die amplitude, desto niedriger ist die kraft, die benötigt wird. im tapping mode nimmt man meistens einen kleinen cantilever, der c-cantilever, der am größten ist, ist einfach zu träge für den tapping mode.
wir nehmen den f-canti im tapping mode.
zuerst bestimmen wir die frequenz: ca. 33kHz
dann sehen wir uns die kraft-abstands-kurve an. auf der y-achse ist die amplitude aufgetragen, auf der x-achse ist der abstand aufgetragen. wir erwarten eine kurve, die sich, je mehr man sich dem nullpunkt nähert, also je näher man an der oberfläche ist, nach unten biegt. man muss sich vorstellen: der canti oszilliert. trifft er auf einer oberfläche auf, wird die oszillation abgeschwächt, die amplitude wird kleiner.
und jetzt beginnen wir mit dem imagen, wir erzeugen ein bild der oberfläche (topografiebild). die kamera, die im mikroskop eingebaut ist, ist praktisch zum cantilever ausrichten. als erstes bekommen wir ein komisches bild. durch die kamera sehen wir, dass sich das sample mitbewegt, also brechen wir ab und nehmen das sample raus, vielleicht hat sich das klebeband, mit dem das sample in der nasszelle befestigt ist, gelöst.
wir starten einen neuen versuch.
beim imagen bekommt man immer 2 bilder: ein topografiebild und ein deflectionbild. (deflection ist das signal der reflexion des laserstrahls vom cantilever auf die photodiode. verbiegt sich der cantilever, verändert sich das signal.) das ziel ist, so viel information wie möglich vom deflectionbild ins topografiebild zu bringen.
über die gains kann man regeln, wie sensibel der piezo ist. stellt man die gains zu hoch ein, übersteuert der piezo und man bekommt kein bild.
wieder zurück zu unserem bild. das topografiebild ist verwischt. möglich, dass der canti noch nicht richtig in kontakt mit der oberfläche ist. neu einstellen.
das deflectionbild sieht hügelig aus, wir nehmen an, dass eine verunreinigung des samples oder der spitze vorliegt.
nach weiteren versuchen gibt es noch immer kein bild, also wird die spitze gewechselt.
schade, ich habe kein richtiges bild gesehen.
da schaut die lü vorbei. sie ist auch praktikantin hier, hat sich aber am fuß verletzt und kommt die ganze woche nicht. aber sie besucht uns heute.
22.07.
mein betreuer andi ist krank... gute besserung!
helfe moni beim kurven auswerten.